厚度6.0μm光譜儀薄膜-3019

厚度6.0μm光譜儀薄膜-3019

X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、X-RAY樣品膜、Prolene膜、ROHS測試膜、XRF有方形托架的圓片薄膜--美國Chemplex--3019#

現(xiàn)貨供應(yīng)：XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、ROHS測試膜、X-ray樣品膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、Mylar膜、美國Chemplex樣品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014樣品膜、Sample Film。

美國Chemplex Industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司，是X射線光譜儀（XRF）配件耗材領(lǐng)域的知名廠商。

Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測試儀器盛放小顆粒固體，粉末，液體，適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品膜薄膜張力特性，與樣品杯組合使用，適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。Chemplex的許多XRF樣品杯、樣品薄膜被列為新穎*的設(shè)計(jì)和應(yīng)用，并被美國商標(biāo)局授予知識產(chǎn)權(quán)地位。

美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

     X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。

品名：XRF樣品膜Sample Film

目錄編號CAT. NO：3019

產(chǎn)品信息：polypropylene膜，厚度6.0μm，直徑63.5mm，100片/盒

品牌：美國Chemplex Industries.Inc.（*）

貨期：現(xiàn)貨

起訂量：1盒以上。

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、X-RAY樣品膜、Prolene膜、ROHS測試膜、XRF有方形托架的圓片薄膜--美國Chemplex--3019#

現(xiàn)貨供應(yīng)：XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、ROHS測試膜、X-ray樣品膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、Mylar膜、美國Chemplex樣品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014樣品膜、Sample Film。

美國Chemplex Industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司，是X射線光譜儀（XRF）配件耗材領(lǐng)域的知名廠商。

Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測試儀器盛放小顆粒固體，粉末，液體，適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品膜薄膜張力特性，與樣品杯組合使用，適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。Chemplex的許多XRF樣品杯、樣品薄膜被列為新穎*的設(shè)計(jì)和應(yīng)用，并被美國商標(biāo)局授予知識產(chǎn)權(quán)地位。

美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

     X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。

品名：XRF樣品膜Sample Film

目錄編號CAT. NO：3019

產(chǎn)品信息：polypropylene膜，厚度6.0μm，直徑63.5mm，100片/盒

品牌：美國Chemplex Industries.Inc.（*）

貨期：現(xiàn)貨

起訂量：1盒以上。

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。